SJT 10062-1991 电子元器件详细规范 PIN40A,PIN40B和PIN40C型硅微带 PIN开关二极管
|
ID： |
347BFF59382D4341A0B6DD6052CAA9DD |
|
文件大小(MB)： |
0.13 |
|
页数： |
10 |
|
文件格式： |
|
|
日期： |
2009-6-11 |
|
购买： |
文本摘录（文本识别可能有误，但文件阅览显示及打印正常，pdf文件可进行文字搜索定位）：
rJ,中华人民共和国电子工业行业标准,sJ/T 10062.10063-91,电 子 元 器件详细规范,PIN40A、PIN40B和PIN4 QC型,硅微 带 PIN开关二极管,PI N6 2A、PIN6 2B、PIN6 2C和,PIN62D型硅PIN开关二极管,1991-04-08发布1991-07-01实施;,中华人民共和国机械电子工业部发布,中华人民共和国电子工业行业标准,电 子 无 器件详细规范,PIN4OA,PIN4OB和PIN4OC型,硅微 带 PIN开关二极管,De tails pecification for electronicc omponents,M ic ro strics ilicon switching PIN diodes,for t yp esP IN40A,PIN40Ba ndP IN40C,SJ/T 10062-91,本 标 准 适用于PIN40型硅微带PIN开关二极管，它是按照GB 12562QPIN二极管空白详,细规范》标准制订的，符合GB 4589“半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB 12560,(半导体器件分立器件分规范》的.类要求,中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施,一1 一,SJ/T 10062- 91,中华人民共和国机械电子工业部,评定器件质盆的根据:GB 4589. 1《半导体器件分立器件和集,成电路总规范》和GB 12560《半导体器件分立器件分规范》,S]/'r 10062-91,YIN40A,YIN40B和YIN40C型硅微带YIN开关二极管详细规范,订货资料，见本规范第7章.,1 机械说明,外 形 图,亡香0 I 22 m i n,“决孽粼岩,尺 寸单位mm,2 简略说明,YIN二极管,半导体材料:硅,封装微带一环氧〔非空腔),应用:天线开关、移相、电调衰减、调制等.,3 质量评定类别,斗-一一.}!— 1一 I类,参考数据:,V ”，，笋300V,Ctw 。i( 0.8pF(YIN 40A),成 O. Gp F( YI N 40B),成 0. 4弓p F( YI N 40C),丁( 工 .a pt,一2 一,SJ/P 10062-91,4 极限值(绝对最大额定值),除非另有规定，这些极限值在整个工作温度范围内适用.,条文号参数名称符号,数值,单位,最小值最大值,4.1,4.2,4.3,4.5 .,4.5.2,工作环境温度,贮存温度,击穿电压,耗散功率,最高有效(等效的)结温,耗散功率,了，em6,了"aig,V-,了飞v户,尸,一55,一55,300,150,150,150,200,℃,℃,V,℃,. W,5 电特性(对检验要求见本规范的第8章),条文号,特 性 和 条件,(见总规范的第4章),Ta mb =2 5C,符号,数值,单位试竺,最小值最大值组别,5.1,5.2,5.3,5.4,5.5,5.7,5.8,5.10,5.11,反向电流,V a=200V,反向电流,V = 20OV,iamb=100'C,正向电压,l, = lO OmA,总电容,Vx =100V,f=1MHz,YI N 40人,YI N 40B,Y IN 40C,反向恢复时间,1, =20.A,Ix=200.A,正向微分电阻,Ir =l00mA,f=lOkH.,申联电感v,封装电容1,热阻p,la y,I 1,V ,C lo‘,t",矛,L,C ,Rom-.,1. 0,10,1. 0,0. 8,0. 6,0. 4,1. 0,1. 0,0. 2,0. 1,0. 625,产A,pA,V,Pr,pF,DF,尸 ,O,n H,PF,℃ /mw,A2b,C2b,A2b,A 2b,A 3,A2b,注:1) 典型值，不作检验用.,6 标志,61 每个器件均放在有参数卡的小包装袋内，参数卡上应有下列资料:,6.1.1 完整的器件型号,6.1.2与外形图相对应的极性识别符号曰粉),6.1.3 质量评定类别标记(应放在型号后面，如PIN 40A I),6.1.4 检验批识别代码,3 一,SJ/T 10062-91,6.2 包装箱上的标志,6.2.1重复参数卡上的器件型号、类别标记和检验批代号,6.2.2 标上“怕湿”等字样,6.2.3 制造厂商标.,7 订货资料,订 货单上应有下列内容:,7.1 准确的型号,72 订货数量,7.3 本规范编号,7.4 对器件的其它要求,8 试验东件和检验要求,8.1 在本章中，除非另有规定，引用的条文号对应于GB 4589. 1的条文号，测试方法引自,GB 65701微波二极管测试方法》,8.2 器件构成A组、B组检验批的时间可以为一个月,试 验 条 件和检验要求见下表,A组 — 逐 批,全 部 试 验都是非破坏性的(3.6.6),检验或试验引用标准,条 件,7'. . t二 2 5' C,(见总规范的第4章),检脸要求,数值,单位,LT PD 最小值最大值,Al分组,外部检验4.2.1.1,5,AN 分组,不工作器件,I.且,Vr,GB 6570,6.2,GB 6570,6.3. 1,Vw=200V,1, =100.A,极 性顺倒,Ix ,> 1 00,或,V F妻 1 0,卜A,V,0.7,Alb分组,I.,G .,Vr,雀,GB 6570,6.2,GB 6570,8.2,GB 6570,6.3. 1,GB 6570,8.3,V = 2 00V,V:二100V f=1MHz,FI N 40 A,FI N 40 B,Pi N 40 C,Ir=100mA,1,=100.A ……
……